本教程适用于那些直接负责数据收集、控制图构筑和监控、以及对产品和过程特性的测量作统计分析的人员。
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本教程适用于那些直接负责数据收集、控制图构筑和监控、以及对产品和过程特性的测量作统计分析的人员。
时间地点:2013年4月19-20日.苏州
课程费用:1600元/人
课程对象:本教程适用于那些直接负责数据收集、控制图构筑和监控、以及对产品和过程特性的测量作统计分析的人员。
培训目标:
帮助理解测量系统的统计特性,认识测量系统对过程控制中数据收集的影响。采用在教员引导下的练习,使学员学会偏倚、稳定性、线性、重复性、再现性分析的实践经验,具备开展测量系统分析和改进的能力。
培训特色:
学员带着零件和量具参加培训;主要讲解MSA过程中的难点,包括如何做测量系统的分析计划、如何选择零件、如何做到一次盲测、如何判定、如何改进;提供了对计数类量具的测量评价方法;对于性能测试、破坏性试验等如何研究他们的稳定性。
培训教材:
每位参加人员将获得一套培训手册。
学员自带具有统计功能的计算器。
课程大纲:
(一)第1章测量系统概述
1.测量的定义;
2.测量系统的定义;
3.理想的测量系统;
4.测量系统的变差来源;(PISMOEA模型)
5.测量系统误差的影响(对产品检验、对过程控制);
6.测量系统分析的概念;
(二)第2章测量系统的几个基本特性
1.测量系统误差(准确度和精确度)的概念;
2.测量系统的几个基本特性(分辨力、偏倚、线性、稳定性、重复性、再现性);
3.测量不确定度的概念;
(三)第3章测量系统的策划和测量系统分析计划
1.测量系统的策划(APQP、FMEA、测量计划、量具的配备、量具的设计、采购或制造、测量系统分析计划、测量系统分析)
2.TS等标准对MSA的要求;
(四)第4章计量型测量系统的分析方法和判断准则
1.偏倚的分析方法与判断准则;
2.线性的分析方法与判断准则;
3.稳定性的分析方法与判断准则;
4.GRR的分析方法与判断准则;(极差法、均值极差法、方差分析法)
(五)第5章计数型测量系统的分析方法和判断准则
1.计数型测量系统的小样法简介
2.计数型测量系统的风险分析法;(Kappa)
3.计数型测量系统的信号探测法;
4.计数型测量系统的解析法;
(六)第6章破坏型测量系统的分析方法和判断准则
(七)附表及附录
(八)练习(课程中)
1.练习一:测量系统理解练习
2.练习二:测量系统分析计划练习
3.练习三:偏倚分析练习
4.练习四:GR&R练习
5.练习五:Kappa值计算练习
6.练习六:风险分析法练习
学员背景要求:
具有统计过程控制的经验;具备一定的计算能力;了解统计假设检验的知识;带计算器。