研发总监、系统工程师、研发经理、品质经理、测试经理、制造技术经理、新产品导入NPI经理及骨干工程师等

【课程时间】2012年8月05-06日上海

【课程费用】￥3000 /人（包括资料费、发票、午餐及上下午茶点等）

【培训对象】研发总监、系统工程师、研发经理、品质经理、测试经理、制造技术经理、新产品导入NPI经理及骨干工程师等

课程收益：

深刻理解可测性设计(DFT)的基本思想和基本原理

熟悉可测性设计(DFT)的基本业务流程

全面掌握可测性设计(DFT)的设计方法

有效构建可测性设计(DFT)的体系平台和货架技术

课程内容介绍：

一、可测性设计(DFT)概述

1、产品生命周期V模型 2、电子信息产品测试所面临的问题 3、什么是可测性设计(DFT)

4、思考：如何深刻理解可测性设计(DFT) 5、可测性的物理特征表述 6、可测性的测度形式

讨论：以下各功能模块的可测性测度是怎样的？

7、可测性设计(DFT)的效益分析 8、可测性设计(DFT)基本要素 9、IPD模式下的DFT体系结构

10、可测性设计(DFT)基本过程11、可测性设计(DFT)中常用术语及缩略语

二、可测性设计(DFT)需求

1、整机研发测试的可测性(DFT)需求来源 2、整机研发测试的可测性(DFT)需求

3、单板软件研发测试的可测性(DFT)需求来源 4、单板软件研发测试的可测性(DFT)需求

5、单板硬件研发测试的可测性(DFT)需求来源 6、单板硬件研发测试的可测性(DFT)需求

7、单板生产测试的可测性(DFT)需求来源 8、单板生产测试的抽象模型

思考：单板生产测试的目的是什么？

9、单板生产测试路线 10、单板生产工艺测试基本原理

11、单板生产功能测试基本原理 12、单板生产测试的可测性(DFT)需求

讨论：本公司各产品适合的生产测试方案和路线是怎样的？

13、JTAG在生产测试中的应用 14、JTAG在生产测试中的可测性设计(DFT)需求

15、单板维修可测性设计(DFT)需求

思考：本公司生产维修有哪些诊断手段？

三、可测性设计(DFT)基本方法

1、输入输出通道设计——测试控制物理通道

2、输入输出通道设计——外部测试命令集

3、输入输出通道设计——测试控制管理

4、输入输出通道设计——测试信息存储与输出

5、输入输出通道设计——外部仪器输入输出接口

6、内置数据源设计——业务数据源自动生成

7、内置数据源设计——差错数据源自动生成

8、内置数据源设计——容限/极限数据源自动生成

9、内置数据源设计——故障数据源自动生成

10、能控性设计——测试数据源的设置与启动

11、能观性设计——系统配置状态监控

12、能观性设计——系统业务状态监控

13、能观性设计——单板运行状态监控

14、能观性设计——系统资源状态监控

15、能观性设计——系统其它状态监控

16、BIST设计——通道分层环回

17、BIST设计——故障诊断

18、BIST设计——初始化自检

案例解读

四、单板可测性设计(DFT)必须考虑的要素

1、机械结构设计 2、自检和自环设计 3、工装夹具设计 4、测试点设计 5、芯片控制引脚设计 6、边界扫描测试设计 7、EPLD/CPLD/FPGA设计 8、如何设计以减少测试点

五、可测性设计(DFT)工程实施

1、可测性设计(DFT)工程实施步骤

2、可测性设计(DFT)工程实施障碍

3、交流与探讨：如何构建可测性设计(DFT)体系和货架技术

讲师介绍：

程春金：

资深讲师研发工程技术产线总监 APECG 测试工程首席专家 中国电子协会 ATE 测试分会会员

工作经验： 华为公司从事通讯产品可测试设计的研究及开发工作，曾参与大型程控交换机、光通信产品、会议电视系统项目的可测试及可制造性工程实施，历任华为中央硬件研发平台部开发经理，兆天网络中试部经理等