直接负责数据收集、控制图构筑和监控、以及对产品和过程特性的测量作统计分析的人员

开课时间：2012-03-12 授课时间：2012年3月12日-13日

开课地区： 广州市 课程费用：2000元/人

学习对象：直接负责数据收集、控制图构筑和监控、以及对产品和过程特性的测量作统计分析的人员。

学员背景要求：具有统计过程控制的经验；具备一定的计算能力；了解统计假设检验的知识；带计算器。

课程目标：

定义测量系统、理解测量系统变差及其来源；

确定测量系统分析的范围、资源、人员需求，制订分析计划；

具备基本的运算能力，以评价测量系统存在的偏倚、稳定性、线性、重复性、再现性、准确度和精确度；

通过测量系统分析，提高选用、维护和改进测量系统有效性的能力；

满足ISO/TS16949和MSA手册等的要求课程内容

课程内容简介：

帮助理解测量系统的统计特性，认识测量系统对过程控制中数据收集的影响。采用在教员引导下的练习，使学员学会偏倚、稳定性、线性、重复性、再现性分析的实践经验，具备开展测量系统分析和改进的能力

课程内容：

第1章 测量系统概述

测量的定义；

测量系统的定义；

理想的测量系统；

测量系统的变差来源；（PISMOEA模型）

测量系统误差的影响（对产品检验、对过程控制）；

测量系统分析的概念；

第2章 测量系统的几个基本特性

测量系统误差（准确度和精确度）的概念；

测量系统的几个基本特性（分辨力、偏倚、线性、稳定性、重复性、再现性）；

测量不确定度的概念；

第3章 测量系统的策划和测量系统分析计划

测量系统的策划（APQP、FMEA、测量计划、量具的配备、量具的设计、采购或制造、测量系统分析计划、测量系统分析）

TS等标准对MSA的要求；

第4章 计量型测量系统的分析方法和判断准则

偏倚的分析方法与判断准则；

线性的分析方法与判断准则；

稳定性的分析方法与判断准则；

GRR的分析方法与判断准则；（极差法、均值极差法、方差分析法）

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第5章 计数型测量系统的分析方法和判断准则

计数型测量系统的小样法简介

计数型测量系统的风险分析法；（Kappa）

计数型测量系统的信号探测法；

计数型测量系统的解析法；

第6章 破坏型测量系统的分析方法和判断准则

练习（课程中）

练习一：测量系统理解练习

练习二：测量系统分析计划练习

练习三：偏倚分析练习

练习四：GR&R练习

练习五：Kappa值计算练习

练习六：风险分析法练习