服务热线

400-600-2138

IPC&FA电子封装失效分析

收藏课程
课程编号:17873 时间:2008年12月01日-01日 讲师:李勇 地点:上海
学习费用:2500 元/位
用手机看:
课程编号 开课日期 地点 培训天数 选择报名

培训对象:

经理,监理,检验员/质控行政人员,操作员及其他相关人员

课程收益:

课程大纲:

1.电子封装失效分析:

电子封装简介, 失效定义及分类, 电子产品为何失效, 失效分析的目标, 失效分析的重要性, 失效分析的思想方法, 失效分析技术线路, 失效分析流程, 元器件典型失效模式和机理.

2.可靠性试验及封装认证:

产品可靠性浴盆曲线, 筛选试验,可靠性试验,可靠性认证, 常见可靠性试验、目的、诱导的典型失效模式及机理等, 典型集成电路塑料封装器件的封装认证标准简介, 器件结构分析.

3.塑料封装器件的潮气敏感性及相关问题:

塑料封装器件中的水汽扩散、回流焊接过程中湿气蒸发引起 的分层、爆裂等失效现象, 器件湿气敏感性分级:JESD020C:非气密性表面封装固态电路的水汽/回流敏感性等级, 如何判断与湿气敏感性相关的失效的根本原因:器件质量还是电子组装, 器件怀疑吸湿如何处理实用指南.

4.焊接及焊点失效分析:

焊接界面形成, 电子产品服役过程中焊料组织及界面金属间化合物的演化及其与焊点失效的关系, 影响焊点寿命的典型设计、工艺、材料等因素, 焊点失效分析流程, 焊点失效典型模式及分析方法.

讲师介绍:

在线报名:

客户报名咨询:020-39971893     400 600 2138

近期相关公开课:

报名服务流程:

中培网优势:

热门课程

会员登录

勾选即代表确认同意《用户协议》

没有账号?立即注册

忘记密码?