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统计过程控制SPC–II

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课程编号:12550 时间:2007年10月18日-19日 讲师:TONY 地点:上海
学习费用:2000 元/位
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课程编号 开课日期 地点 培训天数 选择报名

培训对象:

本教程适用于那些直接负责数据收集、控制图构筑和监控、以及对产品和过程特性的测量作统计分析的人员。

课程收益:

课程大纲:

学员对象: 本教程适用于那些直接负责数据收集、控制图构筑和监控、以及对产品和过程特性的测量作统计分析的人员。

 课程目的: 持续改进之路

SPC简史

产品控制和过程控制

缺陷发现和缺陷预防

质量和生产力的关系

一些简单的统计数

点图和柱状图

均值和中值

标准差和极差

样本和群体

变差

变差的普通和特殊原因

受控和非受控过程

以时间分布作图

抽样程序

理想样本

抽样和能力

抽样和控制策略

样本均值

过程控制和产品能力

正态分布

控制图模式

&R和&s图

计算控制限

选用正确的控制图

控制图解释

失控信号

反应计划

过程能力

过程能力指数

过程能力和产品能力

用控制图数据评价能力

测量变差的来源

量具R&R研究

单值图

属性类数据的控制图

第二版新增控制图简介

 课程内容: 理解SPC的基本原理和实践方法;

了解过程变差及其评价方法,开展过程能力的评估;

掌握基础的统计概念和SPC的基本步骤;

建立均值、极差图和均值、标准差图,并能对控制图作解释;

 授课时间: 2

 每班人数: 15

 授课语言: 中文

 授课顾问: TONY

 其他信息: 学员背景要求:

仅需具备基本的数学知识和运算能力,带计算器。

讲师介绍:

在线报名:

客户报名咨询:020-39971893     400 600 2138

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